LAYERCHECK 750 USB-F

LAYERCHECK 750

订单号: 03040131
钢 (F) 的非破坏性层厚测量可测厚度最大 3000 μm

说明

小巧坚固的测厚仪 LAYERCHECK 750 USB 用于在金属基底上进行快速、准确、非破坏性的层厚测量。典型的应用范围包括如工业防腐、评估、电镀和涂装业务、化学工业、汽车、船舶、飞机、设备和机械制造。根据设备类型和探针,电池供电的测厚仪采用磁感应试验法 (F) 或额外(组合探针 - FN)根据涡流试验法工作。

技术说明

TBE-750 USB.pdf 70.2 KB
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标准

1DIN
2ISO
3ASTM
4BS

技术数据

DT /NDT NDT
Substrate F
Layer Thickness up to 3000 µm
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