LAYERCHECK 750 USB-F

LAYERCHECK 750

Número de encomenda: 03040131
Medição não destrutiva da espessura de camadas em aço (F) até 3000 µm
812,00 €
Preço líquido mais imposto sobre as vendas. Venda exclusivamente a compradores comerciais

Prazo de entrega 3-4 semanas

Descrição técnica

TBE-750 USB.pdf 246,6 KB
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Descrição

O aparelho de medição da espessura de camadas pequeno e robusto LAYERCHECK 750 USB é aplicado para a medição rápida e precisa, não destrutiva, da espessura de camadas em bases metálicas. Área de aplicação mais comuns são por ex. proteção contra corrosão industrial, empresas de avaliação, galvanização e pintura, indústria química, construção automóvel, naval, aviação, de máquinas e equipamentos. Os aparelhos de medição da espessura de camadas operados a bateria funcionam conforme o tipo de aparelho e sonda de acordo com o método magnético-indutivo (F) ou ainda (sonda combinada – FN) segundo o método de corrente parasita.

Normas

1DIN
2ISO
3ASTM
4BS

Dados técnicos

DT /NDT NDT
Substrate F
Layer Thickness up to 3000 µm
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