Свяжитесь Свяжитесь с нами
LAYERCHECK 750 USB-F

LAYERCHECK 750

Номер заказа: 03040131
Неразрушающее измерение толщины слоя на стали (F) до 3000 мкм

Описание

Небольшой и прочный прибор для измерения толщины слоя LAYERCHECK 750 USB применяют для быстрого и точного неразрушающего измерения толщины слоя на металлических основах. К типичным областям применения относятся промышленная защита от коррозии, экспертная оценка, гальванический и малярный цех, химическая отрасль, автомобиле-, судо-, самолето-, приборо- и машиностроение. Работающие от батареи приборы для измерения толщины слоя действуют в зависимости от типа устройства и зонда по магнитно-индуктивному методу (F) или также (комбинированный щуп – FN) по методу вихревых токов.

Техническое описание

TBE-750 USB.pdf 70,2 КБ
Скачать

Стандарты

1DIN
2ISO
3ASTM
4BS

Технические данные

DT /NDT NDT
Substrate F
Layer Thickness up to 3000 µm
Успешно добавлено в список наблюдения.
Успешно добавлено в вашу корзину.