LAYERCHECK 750 USB-F
LAYERCHECK 750
Номер заказа: 03040131
Неразрушающее измерение толщины слоя на стали (F) до 3000 мкм
Описание
Небольшой и прочный прибор для измерения толщины слоя LAYERCHECK 750 USB применяют для быстрого и точного неразрушающего измерения толщины слоя на металлических основах. К типичным областям применения относятся промышленная защита от коррозии, экспертная оценка, гальванический и малярный цех, химическая отрасль, автомобиле-, судо-, самолето-, приборо- и машиностроение. Работающие от батареи приборы для измерения толщины слоя действуют в зависимости от типа устройства и зонда по магнитно-индуктивному методу (F) или также (комбинированный щуп – FN) по методу вихревых токов.
Техническое описание
TBE-750 USB.pdf
70,2 КБ
Стандарты
1DIN
2ISO
3ASTM
4BS
Технические данные
DT /NDT
NDT
Substrate
F
Layer Thickness
up to 3000 µm