ISO
LAYERCHECK 750
LAYERCHECK 750 USB-FN
zerstörungsfreie Schichtdickenmessung auf Stahl (F) und Nichteisenmetallen (N) bis 3000 µm bzw. 2000 µm
zerstörungsfreie Schichtdickenmessung auf Stahl (F) und Nichteisenmetallen (N) bis 3000 µm bzw. 2000 µm